QUANTAX EDS pour SEM
- La dernière génération de QUANTAX EDS de Bruker comprend la série de détecteurs XFlash qui fournit le plus grand angle solide pour la collecte de rayons X (également appelé angle de collecte) et le débit le plus élevé .
- Le XFlash ® 7 continue d’établir des normes de performance et de fonctionnalité dans la spectrométrie à dispersion d’énergie pour le microscope électronique à balayage (SEM), le faisceau ionique focalisé (FIB-SEM) et le micro-analyseur à sonde électronique (EPMA).
- La dernière génération de QUANTAX EDS de Bruker comprend la série de détecteurs XFlash qui fournit le plus grand angle solide pour la collecte de rayons X (également appelé angle de collecte) et le débit le plus élevé .
- Le XFlash ® 7 continue d’établir des normes de performance et de fonctionnalité dans la spectrométrie à dispersion d’énergie pour le microscope électronique à balayage (SEM), le faisceau ionique focalisé (FIB-SEM) et le micro-analyseur à sonde électronique (EPMA).
- La famille de détecteurs XFlash ® 7 propose également des solutions optimisées pour l’analyse EDS d’échantillons transparents aux électrons en TEM et SEM, ainsi que l’unique XFlash ® FlatQUAD, un détecteur conçu pour répondre à vos questions sur des échantillons difficiles.
- Technologie Slim-line, conception à grand angle de collecte, traitement des impulsions de dernière génération, disponibilité maximale du système grâce à la maintenance prédictive.
- Performances spectrales les plus élevées obtenues avec la meilleure résolution en énergie.
- Précision accrue des résultats grâce à des algorithmes de quantification sophistiqués et une combinaison unique de méthodes sans standard et basées sur des normes.
- Obtenez des résultats très précis plus rapidement avec des systèmes EDS optimisés individuellement. Il assure une vitesse et une précision inégalées.
- Réduisez le temps de mesure avec un débit maximisé, permettant la cartographie et la quantification dans tous les paramètres sans limitation de la taille des données.
- Analysez maintenant des échantillons difficiles, grâce à la collection géométrique la plus efficace de rayons X générés.
- Bénéficiez de résultats de quantification précis et fiables avec une géométrie optimisée minimisant le bruit de fond et évitant l’absorption.
- Détectez de petites quantités avec une meilleure limite de détection, un bruit de fond plus faible et moins d’absorption.
- Un pour tous – intégration transparente d’EDS, WDS, EBSD et Micro-XRF dans la plate-forme d’analyse complète ESPRIT pour tout SEM, FIB-SEM et EPMA.
Résolution des joints de grains enrichis en bismuth dans les matériaux thermoélectriques
Voici une carte d’Argent-Plomb-Bismuth-Tellurure (AgPb 18 BiTe 20 ) avec ségrégation de Bismuth aux joints de grains. Pb et Te sont uniformément répartis dans le matériau, tandis que la fluctuation locale de la concentration en Ag est visible sur les mini-cartes. Pb et Bi ont de forts chevauchements dans les spectres EDS. L’algorithme automatisé d’ajustement et de déconvolution des pics d’ESPRIT 2 a pu faire la distinction entre les pics Pb et Bi avec de forts chevauchements.
Cartographie élémentaire à ultra-haute résolution des nanoparticules de silicium Si-core-C-shell
Un courant de faisceau très faible et/ou un temps de mesure très court sont nécessaires pour l’analyse EDS basée sur SEM d’échantillons sensibles au faisceau, tels que les nanoparticules de silicium. Il est nécessaire d’utiliser une basse tension pour réduire le volume d’interaction électron-échantillon lorsqu’une résolution spatiale élevée est requise. Pour la mesure EDS conventionnelle, de telles conditions analytiques sont difficiles car le rendement de rayons X induit est très faible et demande donc un temps de mesure très long. La conséquence est la dérive de l’échantillon induite par le faisceau qui affecte la résolution spatiale.
Les mesures EDS effectuées avec XFlash ® FlatQUAD surmontent ces limitations. La géométrie unique du XFlash ® FlatQUAD permet une sensibilité de détection élevée pour les matériaux à faible rendement en rayons X, donnant des taux de comptage élevés à de faibles courants de sonde. Ainsi, le détecteur XFlash ® FlatQUAD est idéal pour cartographier les matériaux sensibles aux faisceaux même avec une topographie.
Cet exemple présente une carte haute résolution (espacement des pixels de 2 nm !) de nanoparticules de silicium. La cartographie a été réalisée avec un XFlash ® FlatQUAD à 5 kV, 520 pA et 377 s de temps d’acquisition. Les résultats indiquent que les nanoparticules présentes sont caractérisées par un noyau de silicium (vert) et une enveloppe de carbone (rouge). (Données fournies avec l’aimable autorisation de S.Rades et al., Royal Society of Chemistry Advances, 2014, 4, 49577)
Cartographie élémentaire à rayons X haute résolution d’un spécimen de météorite
Les échantillons de météorites sont rares et donc précieux, ils sont de préférence analysés par des méthodes non destructives. Lorsque les études microscopiques de surfaces vierges sont au centre de la recherche, les étapes courantes de préparation des échantillons pour l’analyse EDS basée sur SEM telles que la coupe, le meulage, le polissage et le revêtement de carbone sont strictement exclues.
Les détecteurs EDS conventionnels sont confrontés à des limitations dans de telles circonstances, en particulier lorsqu’une résolution spatiale élevée est requise. Étant donné que les spécimens de météorites minéralogiques sont non conducteurs et topographiques, les effets de charge et d’ombrage sont les principaux défis.
Pour surmonter ces limitations, une solution de pointe est disponible avec le XFlash ® FlatQUAD . Ce détecteur EDS annulaire unique est placé directement au-dessus de l’échantillon, comme un détecteur BSE. Il se caractérise par une sensibilité extrêmement élevée pour un faible rendement en rayons X, minimisant les effets d’ombre et est donc un outil parfait pour cartographier des échantillons rugueux et non revêtus tels que des météorites.
Nous avons enquêté sur la météorite Mocs, une chute historique du 2 février 1882 en Hongrie, fournie par le Musée d’histoire naturelle de Vienne (NHM). L’application du XFlash ® FlatQUAD a mis en lumière l’évolution de la matière cosmique grâce à sa capacité à cartographier à haute résolution la composition élémentaire même dans les cavités profondes.
