MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE Dimension FastScan Pro
Le système garantit la plus grande facilité d’utilisation et le coût par mesure le plus bas pour le contrôle qualité, l’assurance qualité et l’analyse des défaillances.
Le Dimension FastScan Pro offre la vitesse et les performances de niveau métrologique les plus élevées de tous les AFM industriels disponibles aujourd’hui. Le système permet des mesures automatisées ou semi-automatisées tout en garantissant la plus grande facilité d’utilisation et le coût par mesure le plus bas pour le contrôle qualité, l’assurance qualité et l’analyse des défaillances.
FastScan Pro utilise une plate-forme à accès libre, des supports d’échantillons de grande taille ou multiples et de nombreuses fonctionnalités faciles à utiliser pour fournir une métrologie flexible à l’échelle nanométrique hautes performances pour les applications industrielles d’AQ, de CQ et d’AF. Le système fournit des mesures automatisées de plaquettes de 2 pouces à 12 pouces pour le semi-stockage de données et les LED HB. Il offre une course d’échantillon XY accrue pour un accès complet aux tranches de 200 mm ou à plusieurs échantillons dans une zone de 200 mm de diamètre, avec des mandrins en option pour les tranches de 300 mm. Le système offre également le choix entre un scanner FastScan 5-10x à haut débit pour la topographie, la rugosité et d’autres analyses métrologiques, ou un scanner Icon avec une plage de balayage de 90 µm pour des balayages plus importants et des performances topographiques de haute précision.
MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE
Réduit les coûts grâce à l’efficacité opérationnelle.
Une technologie unique permet d’appliquer une force précise à n’importe quel atome de votre échantillon. Ce contrôle précis de la sonde à l’échantillon permet la plus large gamme de types d’échantillons, des polymères mous, des films minces et des échantillons électriques aux matériaux durs. Il fournit également les forces d’imagerie les plus faibles disponibles et une longue durée de vie de la pointe de la sonde sur des centaines d’engagements et de balayages de données.
