NANOSTAR

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Le NANOSTAR avec sa modularité incomparable est l’outil idéal pour la caractérisation des nanostructures et des surfaces nanostructurées par Small-Angle X-Ray Scattering (SAXS), Grazing-Incidence Small-Angle X-ray Scattering (GI-SAXS), Wide-Angle X-ray Scattering (GI-SAXS), Wide-Angle X-ray Scattering Ray Diffusion (WAXS) et Nanographie. Le système de collimation à sténopé conditionné par miroir produit une forme de faisceau circulaire parallèle et idéale avec une intensité élevée et une faible diffusion parasite. La chambre d’échantillon extra-large (XL) peut accueillir une variété d’étages d’échantillons dédiés et tiers pour les mesures de nombreux types d’échantillons dans toutes les conditions. Enfin, le signal diffusé est collecté avec un grand détecteur 2D à faible bruit de fond et très sensible pour les échantillons isotropes et anisotropes.

Par BRUKER
Référence :
NANOSTAR avec faisceau secondaire étendu

Le NANOSTAR avec sa modularité incomparable est l’outil idéal pour la caractérisation des nanostructures et des surfaces nanostructurées par Small-Angle X-Ray Scattering (SAXS), Grazing-Incidence Small-Angle X-ray Scattering (GI-SAXS), Wide-Angle X-ray Scattering (GI-SAXS), Wide-Angle X-ray Scattering Ray Diffusion (WAXS) et Nanographie. Le système de collimation à sténopé conditionné par miroir produit une forme de faisceau circulaire parallèle et idéale avec une intensité élevée et une faible diffusion parasite. La chambre d’échantillon extra-large (XL) peut accueillir une variété d’étages d’échantillons dédiés et tiers pour les mesures de nombreux types d’échantillons dans toutes les conditions. Enfin, le signal diffusé est collecté avec un grand détecteur 2D à faible bruit de fond et très sensible pour les échantillons isotropes et anisotropes.

Source micro-focus IµS

Cette source de rayons X unique fournit un faisceau de rayons X à focalisation très stable et intense sans nécessiter de refroidissement par eau. Grâce à sa conception robuste, la source est garantie 3 ans. L’IµS comprend des optiques de mise en forme de faisceau 2D de pointe MONTEL intégrées, pour une intensité maximale sur l’échantillon. Cette conception de miroir multicouche côte à côte capture un grand angle solide de rayons X à partir de la source et redirige efficacement dans un faisceau hautement parallèle et monochromatique.

CARACTÉRISTIQUES NANOSTAR

Chambre d’échantillon XL

Cette chambre d’échantillon surdimensionnée (XL) est dotée de nombreux orifices de passage supplémentaires et peut fonctionner sous vide, sous gaz inerte ou dans des conditions atmosphériques. Il peut accueillir de nombreux composants standard supplémentaires pour une manipulation individualisée de plusieurs échantillons ainsi que des étapes tierces et personnalisées pour une visibilité maximale. Une platine XY motorisée avec une large plage de translation et une roue de support d’échantillon de référence motorisée secondaire rendent l’alignement automatisé des échantillons et les numérisations de référence et d’arrière-plan en un clin d’œil !

CARACTÉRISTIQUES NANOSTAR

Détecteur 2D VÅNTEC-500

Détecteur VANTEC 500

Le détecteur VANTEC-500 2-D avec la technologie Mikrogap TM satisfait à toutes les exigences idéales d’un système SAXS dédié. Tout d’abord, pas besoin de gaz, d’eau ou d’entretien de routine et pas de soucis de rayonnement intense ou de dommages causés par les mouvements, ce détecteur est robuste et très facile à utiliser. Une grande zone active (14 cm de diamètre) pour permettre une couverture angulaire énorme avec un champ de vision complet. Fond incroyablement faible et taux de comptage maximal élevé pour une plage dynamique fantastique et une sensibilité aux échantillons à faible diffusion. Excellente résolution spatiale pour résoudre les caractéristiques de diffusion étroitement espacées. Aucun autre détecteur ne peut offrir ces combinaisons de fonctionnalités idéales pour ces applications.

Diffusion des rayons X petit angle et grand angle (SAXS & WAXS)

La diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS) est un phénomène causé par des particules intégrées dans une matrice de densité électronique différente. Si la taille des particules est comprise entre 1 nm et 200 nm, l’angle de diffusion est compris entre 0° et 5°, selon la longueur d’onde des rayons X utilisée. Plus les particules sont petites, plus les angles de diffusion sont larges.

Tout arrangement de particules dans n’importe quel milieu montre une différence de densité électronique, ce qui se traduit par un schéma spécifique lors de l’exécution d’une expérience SAXS. Outre la taille des particules, SAXS peut également déterminer leur forme, leur distance et leur distribution de taille à partir du motif 2D. Les particules peuvent être des macromolécules dissoutes, des précipitations dans les métaux, des particules minérales dans les tissus biologiques et des micelles de surfactant.

 

 

 

Contrairement à SAXS, la diffusion de rayons X à grand angle (WAXS) examine les structures au niveau Angstrom, qui sont généralement des distances interplanaires de structures cristallines. WAXS est souvent utilisé pour analyser le modèle de diffraction des rayons X (XRD) de Bragg, ce qui peut aider à déterminer la structure cristalline, le degré de cristallinité, la taille des cristallites et la composition de la phase (Phase ID). Les données WAXS peuvent être collectées en même temps (simultanément) que les données SAXS avec un 2e détecteur positionné beaucoup plus près de l’échantillon.

APPLICATIONS NANOSTAR

SAXS à incidence de pâturage (GI-SAXS)

Pour sonder les détails structurels de la surface et du sous-sol, les échantillons sont mesurés en géométrie d’incidence rasante. Les angles incidents sont proches de l’angle dit critique de réflexion totale et se situent typiquement entre 0,1 et 0,7 degrés. Dans une expérience de diffusion de rayons X aux petits angles d’incidence rasante (GISAXS), l’intensité diffusée de manière diffuse est collectée dans la direction non coplanaire au moyen d’un détecteur 2D.

Une platine GI-SAXS dédiée avec inclinaison motorisée est utilisée pour aligner l’échantillon dans le faisceau.

APPLICATIONS NANOSTAR

Nanographie

Une enquête de nanographie utilise la platine XY motorisée intégrée dans la chambre d’échantillon du NANOSTAR. Cela permet de balayer automatiquement une région sélectionnée de l’échantillon à travers le faisceau de rayons X. La distribution d’intensité (ou un autre paramètre de diffusion) peut ensuite être affichée au moyen d’un tracé de contour à code couleur.

La nanographie permet une détection rapide et sélective des points de mesure pertinents avec des échantillons non homogènes et permet de positionner avec précision même de petits échantillons. Chaque point individuel de l’image Nanography complète elle-même représente l’intensité SAXS/WAXS intégrale collectée par le 2-D.